普賽斯|測試儀|LIV 60101

LIV 6 Series LIV Comprehensive Tester

LIV60101 綜合測試儀適用於光通業界的 LD、TO-Can、TOSA 器件的 LIV 特性曲線和特性參數測試,以及光譜特性測試(需外接光譜儀) 。

系統集電流源、電壓源、電流表、電壓表和光功率計等功能於一體。

產品特點

  • 支援脈衝光譜測試。
  • 支援 DFB / VCSEL 器件任意封裝類型測試。
  • 支援 LD 反向漏電流測試。
  • 支援 LD 保護二極體通電與斷電測試。
  • 支援 MPD 暗電流測試。
  • MPD 反向電壓可調。
  • 內置大面積 PD,提供外置 PD 和積分球接口,支援 TO 測試。
  • 內置 PD 響應波長範圍 800~ 1700nm。

技術指標

ItemSpec.
雷射封裝類型DFB / VCSEL 器件任意封裝類型
測試項目LIV 曲線,Ith,Po,Vf,Im,Rs,SE,Kink 等
LD 驅動電流輸出範圍 0~250mA,精度 0.1%FS±0.1mA,最大可客製到 500mA
LD 正向電壓測試範圍 0~5.0V,精度 0.1% FS±50mV
LD 反向漏電流測試範圍 0~300nA,精度 0.5% FS±1.0nA,@<50%RH
LD 反向電壓輸出範圍 0~5.0V,精度 1% FS±50mV
LD 保護二極體提供反向電壓0~5V,測試電流 0~2.5mA
MPD 反向電壓輸出範圍 0~5.0V,精度 1% FS±50mV
MPD 暗電流測試範圍 0~300nA,精度 0.5% FS±1.0nA,@<50%RH
MPD 背光電流測試範圍 0~3000uA,精度 0.1% FS±5uA
內置 PD 檢測光功率範圍 0~10mW,精度 0.1% FS±50uW
[註]更大功率測試請選配:外置PIN 管或積分球
內置 PD 響應波長800~1700nm (支援 850nm VCSEL 器件測試)
校正功能用戶可自行校準功率、電壓、背光
掃描時間掃描步進 0.1~10.0mA 可以配置,2ms/點
脈衝光譜測試脈寬 200us~65ms,週期 2ms~320ms,同步輸出觸發訊號

選配項目

通訊接口
ItemSpec.
#1RS232
內置PIN接口
ItemSpec.
#AFC
#BSC
#CLC
#D萬用頭
內置PIN面積
ItemSpec.
#11.0mm
#22.0mm
#33.0mm
驅動電流範圍
ItemSpec.
#A250mA
#B500mA

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