普賽斯|測試儀|CPON 01001

Combo PON Comprehensive Tester

Combo PON 器件性能綜合測試系統是模擬 Combo PON 器件實際複雜的應用環境,自動快速測試 Combo PON 器件 2 發 2 收近 40 多種性能參數的測試系統。

可一鍵完成 1490nm 2.5G DFB 器件發射和 1577nm 10G EML 器件發射的 LIV 綜合測試,1310nm 和 1270nm 的 APD 器件或 PIN TIA 器件的靈敏度和響應度測試,支援內部光路的隔離度和光串擾測試。

產品特點

  • 採用插卡式組合方案,包含兩個高速誤碼儀、兩個探測器綜合分析儀、一個雷射綜合測試儀、光可變衰減器、光分配單元,整合彈性程度高。
  • 可測試 APD 器件各種參數:VBR、暗電流、靈敏度、飽和光功率、響應度、光隔離度、Xtalk 串擾。
  • 可對 DML LD 和 EML LD 進行測試:閾值電流、正向電壓、背光電流、功率、暗電流、斜效率以及 Kink 點、Vend、EaPo 等參數。
  • 可測試 PIN 器件各種參數:暗電流、靈敏度、飽和光功率、響應度。
  • 設計器件保護措施,包含靜電,突波,過電流保護,APD 加電順序控制等。

技術指標

ItemSpec.
VBR0~60V;0.5%±0.1V
測試速率622M、1.25G、2.5G、10Gbps、15Gbps
靈敏度穩定度短期:<±0.3dB
暗電流測試0~200nA;3%±2nA
Icc 測試0~150mA;1%±1mA
響應電流 (Iapd)0~200uA;1%±0.5uA
Xtalk30~50dB;±1dB
靈敏度搜索時間16s (典型值)
ItemSpec.
LD 驅動電流範圍0~100mA;0.1%±0.1mA
背光檢測範圍0~2500uA;0.3%±5uA
檢測光功率範圍0~10mW;1%±50uW
LD 正向電壓0~3.0V;0.5%±0.05V
PD 暗電流0~100nA;1%±1.5nA
ItemSpec.
LD 驅動電流範圍0~120mA;0.1%±0.1mA
背光檢測範圍0~2500uA;0.3%±5uA
LD 正向電壓0~3.0V;0.5%±0.05V
PD 暗電流0~100nA;1%±1.5nA
EA 電壓-3V~+2V;0.5%±0.05V
EA 保護電流-120mA~30mA;1%±1mA
ItemSpec.
溫控範圍0℃~85℃
溫控精度±0.15℃ (@NTC,10KΩ)
TEC 電流-500mA~+500mA;1%±10mA
TEC 電壓-2V~+2V;1%±50mV
可程控設置限壓值
熱敏電阻NTC,10KΩ@25℃

典型數據

靈敏度重複性
一 只 10G BOSA 器 件 重 複 實 測 靈 敏 度 數 據
一 只 10G BOSA 器 件 重 複 實 測 靈 敏 度 機 率 分 佈 圖
一 只 2.5G BOSA 器 件 重 複 實 測 靈 敏 度 數 據
一 只 2.5G BOSA 器 件 重 複 實 測 靈 敏 度 機 率 分 佈 圖
EOS波形
APD 器 件 RX 端 測 試 過 程 中 Vapd 腳 上 時 序

TOP

zh_TW繁體中文