BOSA Comprehensive Tester
BOSA 器件綜合測試系統是用於測試 BOSA 元件各項性能參數的系統。設備最高支援 15G 速率的測試,常用於 10G 、 2.5G BOSA 器件的綜合
性能測試。
本系統模擬 BOSA 器件實際應用環境,自動快速測試 BOSA 器件近 20 種性能參數的測試。
產品特點
- 採用插卡式組合方案,包含高速誤碼儀、探測器綜合分析儀、雷射綜合分析儀、光可變衰減器、光功率計(可依需求選配) 、光分配單元,整合彈性程度高。
- 可測試 APD 器件各種參數:VBR、暗電流、靈敏度、飽和光功率、光隔離度、響應度。
- 可測試 PIN 器件各種參數:暗電流、靈敏度、飽和光功率、光隔離度、響應度。
- 可對 LD 器件進行測試:閾值電流、MPD 暗電流、正向電 壓、背光電流、光功率、斜效率以及 Kink 點等。
- 模擬雙工工作環境,可測試 BOSA 器件的隔離度和光串擾。
- 設計器件保護措施,包含靜電,突波,過電流保護,APD 加電順序控制等。
技術指標
RX
Item Spec. VBR 0~60V;0.5%±0.1V 測試速率 622M、1.25G、2.5G、10Gbps、15Gbps 靈敏度穩定度 短期:<±0.3dB 暗電流測試 0~200nA;3%±2nA Icc 測試 0~150mA;1%±1mA 響應電流 (Iapd) 0~200uA;1%±0.5uA Xtalk 30~50dB;±1dB 靈敏度搜索時間 16s (典型值) TX
Item Spec. LD 驅動電流範圍 0~100mA;0.1%±0.1mA 背光檢測範圍 0~2500uA;0.1%±5uA 檢測光功率範圍 0~10mW;1%±50uW LD 正向電壓 0~3.0V;0.5%±0.01V PD 暗電流 0~100nA;3%±2nA
典型數據