LIV 6 Series LIV Comprehensive Tester
LIV60301 綜合測試儀適用於光通業界的 LD、TO-Can、TOSA、DML、EML、SOA-EML 以及帶 TEC 的蝶形器件溫度控制、LIV 特性曲線、PV 特性曲線和特性參數測試，以及光譜特性測試(需外接光譜儀) 。
系統集溫控器、電流源、電壓源、電流表、電壓表和光功率計等功能於一體。
產品特點
- 支援脈衝光譜測試。
- 支援多模 TOSA 在 50um和 62.5um 光纖傳輸比對。
- 支援 FP / DFB / VCSEL / DML / EML / SOA-EML 器件任意封裝類型測試。
- 支援 LD 反向漏電流測試。
- 支援 LD 反向 Vbr 測試。
- 支援 MPD 暗電流測試。
- 支援 LIV 掃瞄，步進時間 2ms~ 6s 任意配置。
- 支援 EA 的 PV 曲線測試與 DC-ER 測試。
- 支援 EA 反向 Vbr 測試。
- 支援 TEC 溫度控制。
- 最多同時支援 5通道驅動電流、1通道驅動電壓同時輸出。
- 提供三個光源輸入口，內置 PIN、外置 PIN 接口和積分球接口。
- 內置 PIN 響應波長範圍 800~ 1700nm。
技術指標
Item Spec. 雷射封裝類型 FP / DFB / VCSEL / DML / EML / SOA-EML 器件任意封裝類型 測試項目 LIV 曲線，PV 曲線，Ith，Po，Vf，Im，Rs，SE，Kink，Vinf，DC-ER 等 LD 驅動電流輸出 範圍 0~250mA，精度 0.1%FS±0.25mA，最大可客製到 500mA LD 正向電壓測試 範圍 0~5.0V，精度 0.1% FS±50mV LD 反向漏電流測試 0~100nA，精度 1% FS±1.0nA，@<50%RH
0~1uA，精度 0.1% FS±10nA，@<50%RH
0~10uA，精度 0.1% FS±0.1uA，@<50%RH
0~100uA，精度 0.1% FS±1uA，@<50%RH
0~1mA，精度 0.1% FS±10uA，@<50%RHLD 反向電壓輸出 範圍 0~30.0V，精度 0.1% FS±0.3V LD 反向電流輸出 0~10uA，精度 0.1% FS±0.1uA
0~100uA，精度 0.1% FS±1uA
0~1mA，精度 0.1% FS±10uALD 反向 Vbr 測試 範圍 0~30.0V，精度 0.1% FS±0.3V MPD 反向電壓輸出 範圍 0~5.0V，精度 0.1% FS±50mV MPD 暗電流測試 範圍 0~300nA，精度 0.5% FS±3.0nA，@<50%RH MPD 背光電流測試 範圍 0~3000uA，精度 0.1% FS±10uA 四通道擴展電流輸出 範圍 0~250mA，精度 0.1%FS±0.25mA，最大可客製到 500mA 四通道擴展電流壓降測試 範圍 0~5.0V，精度 0.1% FS±50mV 內置 PIN 管檢測光功率 範圍 0~10mW，精度 0.1% FS±50uW
[註]更大功率測試請選配：外置PIN 管或積分球內置 PIN 管響應波長 800~1700nm (支援850nm VCSEL 器件測試) 校正功能 用戶可自行校準功率、電壓、背光 LIV 掃描時間 掃描步進 0.1~10.0mA 可以配置，
步進時間 2ms~6s 任意配置PV 掃描時間 掃描步進 0.02V~0.1V 可以配置，
步進時間 2ms~6s 任意配置脈衝光譜測試 脈寬 200us~650ms，週期 2ms~6s，同步輸出觸發訊號 EV 電壓輸出 範圍 -5.0V ~ +5.0V，精度 0.1% FS±50mV EV 暗電流測試 範圍 0 ~ 1mA，精度 0.1% FS±10uA EV 電流測試 範圍 -200mA ~ +200mA，精度 0.1% FS±2mA TEC 電壓 範圍 -1.6V~+1.6V，精度 1% FS±50mV TEC 電流 範圍 -1A~+1A，精度 1% FS±10mA 熱敏電阻 NTC，10K@25℃ 溫度控制 範圍 -40℃~+100℃，精度 ±0.15℃ 溫度速度 典型值 5s (25℃~45℃)
繁體中文 
English