Combo PON Comprehensive Tester
Combo PON 器件性能綜合測試系統是模擬 Combo PON 器件實際複雜的應用環境,自動快速測試 Combo PON 器件 2 發 2 收近 40 多種性能參數的測試系統。
可一鍵完成 1490nm 2.5G DFB 器件發射和 1577nm 10G EML 器件發射的 LIV 綜合測試,1310nm 和 1270nm 的 APD 器件或 PIN TIA 器件的靈敏度和響應度測試,支援內部光路的隔離度和光串擾測試。
產品特點
- 採用插卡式組合方案,包含兩個高速誤碼儀、兩個探測器綜合分析儀、一個雷射綜合測試儀、光可變衰減器、光分配單元,整合彈性程度高。
- 可測試 APD 器件各種參數:VBR、暗電流、靈敏度、飽和光功率、響應度、光隔離度、Xtalk 串擾。
- 可對 DML LD 和 EML LD 進行測試:閾值電流、正向電壓、背光電流、功率、暗電流、斜效率以及 Kink 點、Vend、EaPo 等參數。
- 可測試 PIN 器件各種參數:暗電流、靈敏度、飽和光功率、響應度。
- 設計器件保護措施,包含靜電,突波,過電流保護,APD 加電順序控制等。
技術指標
RX
Item Spec. VBR 0~60V;0.5%±0.1V 測試速率 622M、1.25G、2.5G、10Gbps、15Gbps 靈敏度穩定度 短期:<±0.3dB 暗電流測試 0~200nA;3%±2nA Icc 測試 0~150mA;1%±1mA 響應電流 (Iapd) 0~200uA;1%±0.5uA Xtalk 30~50dB;±1dB 靈敏度搜索時間 16s (典型值) DML TX
Item Spec. LD 驅動電流範圍 0~100mA;0.1%±0.1mA 背光檢測範圍 0~2500uA;0.3%±5uA 檢測光功率範圍 0~10mW;1%±50uW LD 正向電壓 0~3.0V;0.5%±0.05V PD 暗電流 0~100nA;1%±1.5nA EML TX
Item Spec. LD 驅動電流範圍 0~120mA;0.1%±0.1mA 背光檢測範圍 0~2500uA;0.3%±5uA LD 正向電壓 0~3.0V;0.5%±0.05V PD 暗電流 0~100nA;1%±1.5nA EA 電壓 -3V~+2V;0.5%±0.05V EA 保護電流 -120mA~30mA;1%±1mA TEC溫控
Item Spec. 溫控範圍 0℃~85℃ 溫控精度 ±0.15℃ (@NTC,10KΩ) TEC 電流 -500mA~+500mA;1%±10mA TEC 電壓 -2V~+2V;1%±50mV
可程控設置限壓值熱敏電阻 NTC,10KΩ@25℃
典型數據